Systèmes de test Boundary Scan (JTAG)

La BU Production et Test ISIT, commercialise les produits XJTAG (JTAG Boundary Scan), basés sur la norme IEEE Std.1149.x. Les outils XJTAG s’adressent aussi bien aux ingénieurs de conception que de test, offrant la possibilité d’optimiser de manière significative le processus global – de la conception à la fabrication et à la maintenance – de développement des systèmes électroniques.
XJTAG a été la première solution boundary-scan à offrir une plate-forme commune pour une utilisation tant par des ingénieurs de conception, des ingénieurs de test, des fabricants ou encore des ingénieurs de maintenance terrain, en permettant de tester non seulement des composants JTAG activés mais aussi les périphériques non-JTAG.

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XJTAG Sondes JTAG

XJTAG fournit une large gamme de contrôleurs JTAG (Boundary scan) de haute performance et des cartes d’extension de test, avec diverses options de connectivité pour interfacer votre PC au circuit sous test. Ceux-ci complètent les outils logiciels, en offrant une flexibilité maximale dans l’usage et la configuration des systèmes de test, à partir de l’environnement de développement totalement intégré.

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XJTAG Outils logiciels

XJTAG propose une suite complète d’outils logiciels pour mettre en œuvre vos tests Boundary Scan (JTAG) durant les différentes phases du cycle de vie de vos équipements électroniques, de la conception à la maintenance en passant par la production.

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XJTAG Assistants DFT

Détectez et corrigez les erreurs JTAG sur les cartes électroniques au stade de la conception, c’est-à-dire avant l’entrée en production. Cette intervention effectuée en amont évite de procéder à de coûteuses reprises, ainsi que de retarder les projets en cours.

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XJTAG Cartes d'Extension E/S

Les cartes XJIO vous permettent d’améliorer la couverture de test des cartes ou des systèmes à tester en vérifiant les signaux jusqu’aux connexions externes. Elles s’intègrent avec votre système de test XJTAG pour fournir accès à des zones autrement inaccessibles d’un circuit.

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