Services d'Évaluation et de Développement de test JTAG

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De nombreux designs actuels de cartes électroniques conduisent à une grande densité d’implantation des composants, impliquant une réduction du nombre de points de test. Par ailleurs, un nombre croissant de composants sont fournis en boîtier BGA.

Ces nouvelles tendances imposent de sévères restrictions sur les tests effectués avec des testeurs traditionnels, tels que les lits à clous ou sondes mobiles.

D’autre part, face à la complexité grandissante des cartes, il devient nécessaire de détecter et corriger les défauts le plus en amont possible du processus de production.

Dans ce contexte, de nombreux bénéfices peuvent être retirés par la mise en œuvre des outils de test XJTAG utilisant la technologie Boundary Scan.

Pour vous permettre de mener une réflexion sur l’amélioration de votre processus de test, profitez de notre offre gratuite d’Evaluation et de Développement de tests pour votre application. 


Fournissez des cartes électroniques éprouvées, de meilleure qualité et plus rapidement avec les systèmes de test XJTAG :

De nombreux bénéfices peuvent être retirés par la mise en œuvre des outils de test XJTAG utilisant la technologie Boundary Scan :
  • Tests sans points de test : l'accès physique n'est plus un facteur limitant
  • Rapidité de détection des défauts : amélioration du temps de cycle de test
  • Diagnostic de défaut précis : visualisation à la fois du défaut sur le routage, et sur le schéma de la carte.
  • Réduction des coûts d’ingénierie non récurrents : simplifiez vos systèmes de test en diminuant le nombre de sondes nécessaires tout en améliorant la couverture de test.
  • Rapidité de développement des tests : environnement avancé de développement de tests.
  • Approche DFT (Design For Test) : testabilité des cartes quantifiable dès la phase de conception.
  • Intégration flexible : interface avec les solutions de test du commerce (TestStand, LabView et LabWindows), ainsi qu’avec les principaux systèmes de test propriétaires.
Offre Spéciale d’Evaluation + Développement de tests :
  • Utilisez-vous des boîtiers BGA dans votre conception PCB ?
  • Y a-t-il des FPGA, CPLD, DSP ou des microprocesseurs sur votre circuit imprimé ?
  • Voulez-vous déboguer vos cartes électroniques, détecter les défauts et prouver votre conception rapidement et facilement?
Dans le cadre de son activité de distributeur des solutions XJTAG, et pour commencer à améliorer votre processus de test, ISIT vous propose d’essayer gratuitement XJTAG sur une de vos cartes avec accès à toutes les fonctionnalités du système de test pendant 30 jours.

Détails de l’offre des Services d’essai gratuit du Système XJTAG :

Essai gratuit
  • Système de test XJTAG complet et entièrement fonctionnel (SW & HW).
  • Programme de test Boundary scan test sur la carte de votre choix
  • Contrôleur USB XJLink2
  • Carte de démonstration XJDemo, tutoriaux, accès libre au support XJTAG et aux librairies de composants.
  • Exemples d’intégration à LabVIEW™, TestStand etc.

Programme de test sur la carte de votre choix
  • Développement gratuit des tests, par XJTAG, pour votre première application (sous contrat NDA)

Offre de formation gratuite sous forme d’atelier
  • Introduction aux concepts JTAG, mise en œuvre des outils XJTAG à l’aide d’exemples pratiques avec une carte de démonstration, dans le cadre de workshops.

Profitez du développement gratuit des programmes de test pour votre première application ainsi que d’une évaluation gratuite du système complet de Boundary Scan XJTAG.

Contactez-nous dès aujourd'hui !

Découvrez comment XJTAG peut vous aider à économiser temps et argent.
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